ZEISS METROTOM

工业CT METROTOM

面向未来的质量控制——今天：

十二年来，蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。

看得更多：

     在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。

扫描更快：

通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。

测量与检验整体部件：

蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

轻松且精准地进行多样化特征检测：

利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

蔡司METROTOM系列

METROTOM 800 130 kV

高精准度

ZEISS METROTOM 6 scout

快速采集，高密度的部件

ZEISS METROTOM 800 225kV HR

快速获取，高密度的部件和细节描述

ZEISS METROTOM 1500

即使对于非常大的部件也能实现更多的灵活