Authorized Dealer

025-5791 4518

首页>产品中心>ZEISS工业CT> ZEISS METROTOM:X 射线扫描系统

ZEISS METROTOM:X 射线扫描系统

基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT) 利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精确性的高要求。


测量与检验整体部件


蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统,用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。


轻金属部件的测量


轻松且精准地进行多样化特征检测

利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,蔡司METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。


连接器的测量。

   



全面的3D CT数据分析

GOM Volume Inspect(体积检测)分析软件易于使用,甚至适合初学者,它允许以3D形式进行完整的CT数据分析。软件可以精准地分析几何形状、缩孔或内部结构和组件。即使是细微的缺陷也可以通过单个截面图像看到,并且可以根据各种标准自动进行评估。您还可以将几个组件的体积数据加载到项目中,执行趋势分析,并将分析结果与CAD数据进行比较。这样,就可以准确地确定和记录组件的质量,而上述这些往往都只需一个软件即可完成。





METROTOM技术参数.jpg